典型的范圍和精度
下圖顯示了標準目標的典型范圍和準確性。 更大的目標通?？梢蕴峁└蟮臏y量范圍以及較薄測量的*精度。 選擇目標時應考慮以下因素：

材料的zui小曲率
zui大厚度測量
測量所需的精度
材料的壓縮性（較大或磁珠會壓縮材料，然后較小或無磁性靶球）
表面硬度：磁性目標球不會像滾動的非磁性靶球一樣沿著表面滑動。 使用磁珠時，用戶要小心，確保材料表面不會被磁性目標球劃傷。
一般來說，通過使用在測試件中自由移動的zui大目標球，將獲得的結果。

校準：霍爾效應儀器必須在使用前進行校準，使用與測量相同的探頭和靶標。這是通過無目標的讀數(shù)來實現(xiàn)的，目標接觸探針（零厚度），并在兩個或更多個參考厚度。這允許儀器產(chǎn)生一個校準表，其中繪制電壓變化與厚度的關系。校準將每個使用的目標與本機的內(nèi)存查找表進行匹配。校準還可以測量目標可能位置的兩個極值（“球開”和“球關”），并將這些端點分配給查找表。已知厚度的附加校準點用于微調(diào)表格以獲得*精度。在操作過程中，每當探頭方向或環(huán)境溫度變化時，應進行校準。

MagnaMike 8600圖示目標球的自由運動：由于霍爾效應測量儀測量探頭和目標之間的距離，球的幾何阻塞將導致不準確的測量。類似地，探針必須與部件緊密接觸。當表面幾何形狀限制接觸面積時，應使用鑿點磨損帽。

附近的磁性物體和磁場：探頭不應用于鐵質(zhì)材料，如碳鋼長凳，貨架，支架，支架，手表或首飾，或靠近電動機或類似的電磁干擾源。它應該保持至少8英寸（200毫米）從電腦。所有這些都會影響探頭的磁場，導致不準確的測量。當測量每個目標類型的zui大厚度附近時，這一點尤為重要。

探測方向：由于Magna-Mike 8600通過監(jiān)測磁場的小變化來測量厚度，其校準過程包括對地球磁場的影響的自動補償。zui常見的是，探針以一個恒定的方向被保持在一個立場上。然而，在探針以不同的方向（例如水平保持）使用的情況下，或者當在掃描彎曲部分的外部方向改變時，必須更新校準。在Magna-Mike 8600中，Q-Cal功能用于進行此更正。當測量每個目標類型的zui大厚度附近時，這一點尤為重要。只需移除目標物并按住Q-Cal鍵，同時將探頭保持在所需的方向。

粗糙或垂直的測試表面：當探頭被掃描時，表面粗糙度或凹槽可導致目標球暫時掛起，從而增加表觀厚度。當使用探頭測量水平方向的垂直表面時，重力會導致目標球從探頭的中心線掉落。在這些情況下，MIN Capture模式應用于確保真實zui小厚度的測量。

導線目標：使用導線目標時，探針必須至少距離導線末端1英寸（25毫米）。在測量點，必須將電線牢固地按壓在測試片上，因為與任何其他目標一樣，麥格納 - 邁克實際上正在測量與目標的距離，而不是直徑的壁厚。必須保持探針和導線之間的角度對準（通常是垂直的），因為導線傾斜會影響讀數(shù)。電線目標不應扭曲或彎曲。

介紹：奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應測厚儀是小型，輕便的儀器，旨在對非磁性材料（如塑料，玻璃，復合材料，鋁和鈦）進行快速，準確和可重復的測量。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類型的探頭，兩種類型的耐磨帽和四種類型的目標，以適應一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀。探頭類型 - 直角和直角探頭可用。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺面檢查。 直角探頭設計用于部件幾何形狀限制訪問的情況，如在涉及有色鑄件的一些測試中。